硅材料復合測試儀 硅材料復合分析儀 硅材料測試儀 

型號:DL10-SZT-5

硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的

硅材料復合測試儀 硅材料復合分析儀 硅材料測試儀 

1，二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。

ST512-SZT-5數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。

2，整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別

本儀器工作環(huán)境條件為：

　　溫　　度：18℃―25℃

相對濕度：50%－70%

工作室內應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。

二，    技術參數(shù)

1,測量范圍

（1）電阻率測量：

電 阻 率 0.01-200Ω-cm

方塊電阻 0.01-200Ω-口

電 阻 0.01-200.0Ω

2,數(shù)字電壓表

(1)量 程 : 200mV單一量程

(2)誤 差: 讀數(shù) ±0.2%±3字

(3)輸入電阻 : >10MΩ

3,恒 流 源

(1)電流輸出 0~10mA連續(xù)可調

(2)量 程 1mA, 10mA

(3)誤 差 ±0.2%±3字,

4,手持式四探針測試頭

(a)探 針 間 距:: 1mm

(b)探針機械游移率: ±1.0%

(c)探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.

(d)壓力: zui大 2Kg

（2）導電類型判別：

可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于”重摻”。